為全球客戶提供有效的密封技術解決方案
O型圈
產品簡介

  O型密封圈是指截面為"O"形的橡膠圈。是液壓與氣壓傳動系統中使用最廣泛的一種。主要用于機械部件在靜態條件下防止液體和氣體介質的泄露。在某些情況下,O型密封圈還能用做軸向往復運動和低速旋轉運動的動態密封元件。其結構簡單、安裝方便、成本低、易維修、材質多樣。可作為油、水、氣體等各種各樣流體的密封使用。根據不同的條件,可分別選擇不同的材料與之相適應。

  從密封原理來看,O型密封圈是一種擠壓型密封,擠壓型密封的基本工作原理是依靠密封件發生彈性變形,在密封接觸面上造成接觸壓力,接觸壓力大于被密封介質的內壓,則不發生泄漏,反之則發生泄漏。

產品展示
標示方法

O型圈規格表示方法:內徑*線徑(ID*C/S)

可選擇標準:國標GB3452.1系列美標AS568系列日標JIS B 2401系列

★注:另可訂制非標規格尺寸

為什么選擇貝克

信賴正品IBG

我公司與客戶堅實的合作伙伴關系的實現取決于如下幾個基本方面:材料的適用性、創新實力、嚴格的質量管理以及功能整合的豐富經驗。我公司擁有20000余套模具與龐大的原料數據庫,具有足夠的經驗處理密封件在各種介質和各種工況中的密封問題。

采購時,依照重要性及功能劃分,密封零部件有時被作為C類物資采購,實際上密封部件應當屬于A類物資。液壓氣動閥密封件是該技術的核心部件。

自從公司投產以來,技術的可靠性、系統的高效性、環境方案以及客戶堅實的合作伙伴關系促使公司不斷地發展,通過各種密封件提供的附加特性展示其在功能整合方面的專業技術,IBG充分證明其具備足夠的經驗,處理密封件與各種介質、潤滑劑之間的互相作用。

我們的原材料優勢

與杜邦公司、JSR公司、道康寧公司的緊密合作以及龐大的原料配方數據庫,使我們的原材料物性相對穩定,產品品質可控,獨立的橡膠配方設計能力使我們更大程度地滿足客戶的實際工況需要。

我們的產品檢驗和質量控制

來料檢驗:
對于入庫前的所有原料進行檢測,并出具相應的原材料物性報告,并與原料自帶的物性報告進行對比,兩份物性報告檢測值相符,方可入庫。

模具檢驗:
模具開發完成或模具清洗完上機后,我們將對模具全尺寸進行檢驗,確保每一個腔體的產品品質一致。

產品中檢:
產品生產過程中中檢人員定時對半成品進行檢驗,確保工藝的合理性,把次品率控制在合理范圍之內。

質量控制:
品質部會對每一批產品進行外觀抽檢。

成品全檢:
光學全檢機能夠確保產品外觀,尺寸合格。

技術要求
工況條件

工作壓力:0~70Mpa(高壓時需要加配擋圈)
速  度:最大往復速度可達0.5m/s  最大旋轉速度可達2.0m/s
使用溫度:-60℃~320℃
工作介質:各種潤滑油、液體及氣體

材質硬度與工作壓力的關系

O型圈硬度與其是否耐壓有直接的關系。通常情況下,O型圈硬度越高,它的耐高壓能力越強。

硬度(邵氏A)/ 度50±560±570±580±590±5
工作壓力靜密封/Mpa ≤0.51102050
工作壓力(往復運動,
速度≤0.2m/s)/Mpa ≤
0.5181624
不同合成橡膠的使用溫度范圍

現有的各種合成橡膠材質可滿足O型圈在不同情況下的工作溫度。根據產品工況,可以選取適合其溫度的O型圈橡膠材質。

構造設計
尺寸公差標準表:單位(mm)
內徑(ID) 公差(±)
≤20.1
2.01-100.13
10.01-200.19
20.01-300.26
30.01-400.34
40.01-500.41
50.01-600.48
60.01-700.55
70.01-800.61
80.01-900.69
90.01-1000.76
100.01-1250.82
125.01-1400.99
140.01-1551.09
155.01-1751.19

內徑公差標準表1

內徑(ID) 公差(±)
175.01-2001.33
200.01-2501.49
250.01-2801.82
280.01-3302.01
330.01-3602.33
360.01-4002.52
400.01-4402.78
440.01-4703.05
470.01-5003.32
500.01-5303.41
530.01-560 3.6
560.01-6003.78
600.01-6304.03
630.01-6504.22
650.01-6704.34

內徑公差標準表2

線徑(CS) 公差(±)
- 2.00 0.08
2.01 – 3.00 0.09
3.01 – 4.00 0.10
4.01 – 5.00 0.12
5.01 – 7.00 0.15
7.01 – 10.00 0.20
10.01 – 15.00 0.25
15.01 – 25.00 0.35
25.01 – 100.00 0.45

線徑公差標準表

溝槽的設計

  溝槽中的O型圈在介質壓力驅使下會發生變形,O型圈邊緣部分會流入間隙位置達到O型圈密封功能。O型圈受到的壓力越大,致使O型圈變形越大,則O型圈將獲得更好的密封效果。在O型圈受到的壓力超出其承受極限時,則O型圈會被擠入到間隙中,造成O型圈密封失效。為此O型圈溝槽設計時,必須合理。

擠出間隙

  最大允許擠出間隙gmax和系統壓力,O型圈截面直徑以及材料硬度有關。通常,工作壓力越高,最大允許擠出間隙gmax取值越小。如果間隙g超過允許范圍,就會導致O型圈擠出甚至損壞。

壓縮永久變形

  評定O型圈密封性能的另一指標即所選材料的壓縮永久變形。在壓力作用下,作為彈性元件的O型圈,產生彈性變形,隨著壓力增大,也會出現永久的塑性變形。壓縮永久變形d可由下式確定:

式中: b0-原始厚度(即截面直徑W)  b1-壓縮狀態下的厚度  b2-釋放后的厚度

通常,為防止出現永久的塑性變形,O型圈允許的最大壓縮量在靜密封中約為30%,在動密封中約為20%。

壓縮率和填充率的設定

E (%):壓縮率
T(mm):壓縮余量(T=W-H)
W (mm):O型圈截徑
H(mm):溝槽深度
n (%) :填充率
G (mm):溝槽寬度

壓縮率的設定-------------------------------------------------------------------------------------------------------------

使用范圍:
8%-30%(動密封:8%-20%;靜密封:15%-30%)

填充率的設定-------------------------------------------------------------------------------------------------------------

使用范圍:
max90%、設計目標值75%

O型圈溝槽推薦尺寸

單位(mm)

截面直徑w徑向動態和靜態僅限于軸內密封半徑
溝槽
深度
e1+0.06
溝槽寬度
g0+0.2擋圈
g1+0.2
擋圈
g2+0.2
溝槽
深度
e2+0.2
溝槽
寬度
g+0.2
無擋
圈r
有擋
圈r
1.200.801.40--0.651.400.20-
1.251.001.80--0.851.800.20-
1.521.201.902.903.901.002.100.200.20
1.781.452.203.605.001.202.400.400.20
1.801.452.202.605.001.202.400.400.20
1.901.652.503.905.301.402.500.500.30
2.402.002.904.305.701.703.200.500.30
2.622.253.104.505.901.903.600.600.30
3.503.104.205.607.002.704.801.000.40
3.533.104.205.607.002.704.801.000.40
5.334.706.207.909.604.307.101.200.40
5.705.006.708.4010.104.607.701.200.60
7.006.108.2010.7013.205.809.501.500.60
8.407.509.7012.2014.706.9011.702.000.60
如果需要有較大的膨脹,溝槽寬度可增大20%
失效形式與解決方法
★擠壓
描  述
密封件有粗糙破爛的邊緣,一般通常在壓力低的一側。
造成原因
間隙過大;壓力過大;材料硬度或彈性太低;溝槽空間太小;間隙尺寸不規則;溝槽邊角過于鋒利;密封件尺寸不合適。
解決方法
降低間隙尺寸,選用更高硬度或彈性的材料,合理的溝槽設計。
★密封件卷曲
描  述
密封件明顯呈現卷曲情況。
造成原因
安裝造成,運動速度太低,材料太硬或彈性太小,密封件表面處理不均勻,溝槽尺寸不均勻,溝槽表面粗糙,潤滑不足。
解決方法
正確安裝,選用高彈型材料,選擇可自潤滑的材料,適當的溝槽設計及表面光潔度,盡量使用支撐環。
★永久壓縮變形
描  述
密封件接觸表面呈現平面永久變形。
造成原因
壓力過大;溫度過高;材料沒有完成硫化處理;材料本身永久變形率過高;材料在化學介質中過度膨脹。
解決方法
選擇低變形率的材料;合適的溝槽設計;確認材料與介質相容。
★安裝損傷
描  述
密封件部分或全部呈現整齊傷口。
造成原因
溝槽等部件邊角鋒利,密封件尺寸不適。密封件硬度或彈性過低;密封件表面有污物。
解決方法
清除鋒利邊角;溝槽設計更加合理;選擇尺寸合適的密封件;選擇彈性更大硬度更高的密封件。
★過度壓縮
描  述
密封件接觸表面呈平面變形,并可能伴隨裂紋。
造成原因
設計不合理;沒有考慮到材料由于熱量及化學介質引起的變形,或由于壓力過大引起。
解決方法
溝槽的設計應考慮材料由于溫度及化學介質引起的變形。
★熱腐蝕
描  述
密封件的高溫接觸表面呈現徑向裂紋,另外有的材料可能會變軟,或因溫度過高而使材料變得有光澤。
造成原因
材料不能承受高溫,或溫度超出預計溫度,或溫度變化過快過頻繁。
解決方法
選擇具有抗高溫性能材料,如可能盡量降低密封面溫度。
★電腐蝕
描  述
密封件褪色,同時有粉末狀物質殘留在表面,與介質無接觸一側有腐蝕痕跡。
造成原因
化學反應產生電解,濺蝕(離子對結構表面沖擊引起材料損耗),灼熱,溝槽設計不合理,密封件材料與介質不相容。
解決方法
選擇與介質相適合的材料,降低暴露區域,檢查溝槽設計。
★磨損
描  述
密封件全部或部分密封區域產生磨損,可在密封表面找到材料磨損的顆粒。
造成原因
密封表面光潔度不夠,溫度過高,滲入磨損性強的污物,密封件產生相對運動,密封件表面處理不徹底。
解決方法
使用推薦的溝槽光潔度,使用可自我潤滑的材料,清除造成磨損的部件和環境。
★壓力爆破
描  述
密封件表面呈現氣泡,凹坑,疤痕;壓力很大時材料吸收介質內的氣體,當壓力突然減少時,材料所吸收的氣體快速逃出。造成密封表皮爆破。
造成原因
壓力變化太快,材料的硬度和彈性過低。
解決方法
選擇高硬度高彈性的材料,降低減壓的速度。
★化學腐蝕
描  述
化學腐蝕可引起密封件的各種缺陷,如發泡,破裂,小洞或褪色等,有時化學腐蝕僅可通過儀器測量。
造成原因
材料與介質不符或溫度過高。
解決方法
選擇更加耐化學介質的材料。
★氣體析出材料損失
描  述
此缺陷通常較難檢測,密封件通常表現為截面尺寸減少。
造成原因
材料硫化處理不當,高真空密封要求,材料硬度過低,或使用了帶有增塑劑的材料。
解決方法
避免使用帶有增塑劑的材料,確認密封件經過正確的硫化處理以減低泄露。
★污染
描  述
密封件截面有異物。
造成原因
生產過程受環境有污染,材料遭到腐蝕或產生反應,材料為非半導體行業等級的材料。
解決方法
注明生產及包裝要求的清潔度,加強密封件生產運輸使用過程的環境控制。
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